深圳平治光學(xué)：專業(yè)生產(chǎn)光纖通信用濾光片、窄帶濾光片等多種濾光片產(chǎn)品，可能涉及光學(xué)外觀檢測(cè)設(shè)備相關(guān)元件的生產(chǎn)，為光學(xué)外觀檢測(cè)設(shè)備提供基礎(chǔ)元件支持等工作。

臺(tái)州振皓自動(dòng)化科技有限公司：是“中科院計(jì)算所數(shù)控技術(shù)與產(chǎn)業(yè)化中心”孵化企業(yè)，生產(chǎn)光學(xué)外觀檢測(cè)設(shè)備，運(yùn)用現(xiàn)代光學(xué)原理及數(shù)字?jǐn)z像技術(shù)對(duì)被檢測(cè)物體進(jìn)行實(shí)時(shí)拍攝檢測(cè)等工作。

智馳科技：供應(yīng)二手AOI – SAKI在線自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀，設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定，檢測(cè)速度快，可對(duì)焊錫狀況進(jìn)行精確穩(wěn)定的檢查。

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二、光學(xué)測(cè)量?jī)x器

（一）通用光學(xué)測(cè)量?jī)x器

影像測(cè)量?jī)x：如二次元影像測(cè)量?jī)x，主要是彌補(bǔ)傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測(cè)物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測(cè)量軟件，便能高效檢測(cè)各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置等信息。

投影儀：可以將物體的形狀輪廓等投射出來(lái)，從而方便測(cè)量相關(guān)尺寸等工作，常用于工業(yè)領(lǐng)域的一些測(cè)量任務(wù)中。

顯微鏡類

立體顯微鏡：可用于對(duì)物體進(jìn)行立體的觀察和測(cè)量，在工業(yè)、科研等領(lǐng)域?qū)τ谖⑿∥矬w的檢測(cè)和研究有幫助，例如在電子元器件檢測(cè)、生物樣本初步觀察等方面發(fā)揮作用。

金相顯微鏡：主要用于金屬材料等金相組織的觀察與分析，有助于研究金屬的結(jié)構(gòu)、成分等信息，對(duì)金屬材料的質(zhì)量檢測(cè)、工藝研究等有重要意義。

半導(dǎo)體檢查顯微鏡：專門針對(duì)半導(dǎo)體材料和器件進(jìn)行檢測(cè)，能夠觀察半導(dǎo)體的微觀結(jié)構(gòu)、電路布線等情況，保障半導(dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。

數(shù)碼顯微鏡：將顯微鏡觀察到的圖像以數(shù)字形式輸出，可以方便地進(jìn)行圖像存儲(chǔ)、分析和共享等操作，適用于現(xiàn)代科研、教學(xué)和工業(yè)檢測(cè)等場(chǎng)景。

共聚焦顯微鏡：在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域應(yīng)用較多，它可以對(duì)樣品進(jìn)行分層掃描成像，提高圖像的分辨率和對(duì)比度，有助于深入研究樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和細(xì)胞等微觀信息。

工具顯微鏡：用于測(cè)量工具的幾何形狀、尺寸精度等，在機(jī)械制造、工具加工等行業(yè)是保證工具質(zhì)量的重要測(cè)量?jī)x器。

全站儀：例如zts – 420系列全站儀，采用對(duì)編碼測(cè)角技術(shù)、光電體式雙軸補(bǔ)償系統(tǒng)等技術(shù)，可進(jìn)行角度、距離等測(cè)量工作，在測(cè)量作業(yè)中保證精度和穩(wěn)定性，適用于工程測(cè)量、地形測(cè)量等領(lǐng)域。

折光儀：根據(jù)光線通過(guò)不同濃度液體時(shí)產(chǎn)生不同折光角度，通過(guò)比較折光角度得出液體濃度值的原理設(shè)計(jì)而成，適用于檢測(cè)水溶性切削液（切削油）的重量百分比濃度等。

濁度儀：如sgz – 200a經(jīng)濟(jì)型濁度儀，用于測(cè)量懸浮于水或透明液體中不溶性顆粒物質(zhì)所產(chǎn)生的光的散射程度，并能定量表征這些懸浮顆粒物質(zhì)的含量，采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iso7027中規(guī)定的福爾馬肼（formazine）濁度標(biāo)準(zhǔn)溶液進(jìn)行標(biāo)定，采用ntu作為濁度計(jì)量單位。

（二）專業(yè)光學(xué)測(cè)量?jī)x器

光學(xué)計(jì)量檢定儀器：包括智能化影像儀、激光器涂層測(cè)厚儀等，用于對(duì)光學(xué)零部件及光學(xué)系統(tǒng)的性能、質(zhì)量和光學(xué)參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)和計(jì)量檢定工作。

干涉儀：常用于精確測(cè)量光學(xué)元件的表面形狀、平整度等參數(shù)，在光學(xué)元件制造、光學(xué)系統(tǒng)組裝和調(diào)試等方面是重要的測(cè)量工具，可對(duì)光的干涉現(xiàn)象進(jìn)行分析從而得出測(cè)量結(jié)果。

光譜儀：可用于分析物質(zhì)的光譜特性，通過(guò)對(duì)光的波長(zhǎng)、強(qiáng)度等信息的分析，確定物質(zhì)的成分、結(jié)構(gòu)等信息，在化學(xué)分析、材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。

測(cè)角儀：用于精確測(cè)量角度，在光學(xué)系統(tǒng)的角度校準(zhǔn)、光學(xué)元件的角度檢測(cè)等方面有重要作用。

輪廓儀：能夠測(cè)量物體的表面輪廓形狀，對(duì)于光學(xué)元件表面的粗糙度、形狀精度等測(cè)量有幫助，可提供物體表面微觀幾何形狀的詳細(xì)信息。