光源的選擇標(biāo)準(zhǔn)

在機(jī)器視覺系統(tǒng)中，光源的選擇至關(guān)重要，因?yàn)樗苯佑绊懙綀D像的質(zhì)量和后續(xù)的圖像處理效果。以下是光源選擇的一些標(biāo)準(zhǔn)：

光源均勻性

在有效照射范圍內(nèi)，灰度值標(biāo)準(zhǔn)差要小

光譜范圍

具有較寬的光譜范圍，可以對(duì)不同材料的物體進(jìn)行檢測(cè)

光照強(qiáng)度

光照強(qiáng)度要足夠，提高信噪比，利于圖像處理

使用壽命和穩(wěn)定性

具有較長(zhǎng)的使用壽命及較高的穩(wěn)定性，要保障光源在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行狀態(tài)下能夠持續(xù)穩(wěn)定的提供照明環(huán)境

成本低，易根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)情況定制特殊形狀光源

打光方式

打光方式也是影響機(jī)器視覺圖像質(zhì)量的重要因素。不同的打光方式適用于不同的應(yīng)用場(chǎng)景，以下是幾種常見的打光方式：

打光方式

應(yīng)用領(lǐng)域

高角度照射

光束集中、亮度高、均勻性好、照射面積相對(duì)較小

液晶校正、塑膠容器檢查、工件螺孔定位、標(biāo)簽檢查、管腳檢查、集成電路印字檢查等

低角度照射

對(duì)表面凹凸表現(xiàn)力強(qiáng)

晶片或玻璃基片上的傷痕檢查

垂直照射

照射面積大、光照均勻性好

較大面積照明

背光照射

光源安置在與相機(jī)同軸且位于被測(cè)物體的后面

機(jī)械零件尺寸的測(cè)量，電子元件、IC的外型檢測(cè)，膠片污點(diǎn)檢測(cè)，透明物體劃痕檢測(cè)等

多角度照射

提供多個(gè)角度的照明

半球積分照明

球形均勻照明

同軸光照明

可以消除物體表面不平整引起的陰影，減少干擾

反射度極高的物體，如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測(cè)，芯片和硅晶片的破損檢測(cè)，Mark點(diǎn)定位，包裝條碼識(shí)別

顏色相關(guān)檢測(cè)

在某些特定的檢測(cè)場(chǎng)合下，光源顏色的不同會(huì)對(duì)最后的成像結(jié)果產(chǎn)生不同的影響。例如，如果被測(cè)目標(biāo)顏色背景比較復(fù)雜，且需要獲取目標(biāo)的顏色信息，則需要選擇白色光源。如果希望提高缺陷顏色上的對(duì)比度來突出缺陷特征，則可以通過選擇色環(huán)上相對(duì)應(yīng)的互補(bǔ)顏色來明顯地提高缺陷與背景的對(duì)比度。

在機(jī)器視覺系統(tǒng)中，光源和打光方式的選擇對(duì)于獲得高質(zhì)量的圖像至關(guān)重要。光源的選擇需要考慮其均勻性、光譜范圍、光照強(qiáng)度、使用壽命和成本等因素。不同的打光方式適用于不同的應(yīng)用場(chǎng)景，因此選擇合適的打光方式可以準(zhǔn)確捕捉物體特征，提高物體與背景的對(duì)比度。在處理帶有紅色文字的物體時(shí)，可以選擇與紅色相差較遠(yuǎn)的青色光源來進(jìn)行暗視場(chǎng)拍攝，以過濾掉干擾項(xiàng)的影響。