隨著工業(yè)自動化的快速發(fā)展,機器視覺檢測技術應運而生,到現(xiàn)在的機器視覺檢測設備慢慢普及,不知道你了解過嗎?
下面,和大家一起了解一下機器視覺檢測系統(tǒng)在液晶、半導體行業(yè)里的一下應用。
晶片落位確認(中心坐標檢測)
我們可以可以根據(jù)晶片的一部分圓弧求出虛擬圓,檢測晶片的中心坐標,并準確確認落位位置。趨勢邊緣功能將測量點增加到最多5,000個,提高了定位準確性,且可以同時進行晶片計數(shù)或翻倒檢測。還提供超小型相機可供選擇,無需擔心安裝空間。
顯示設備的外觀檢測
檢測顯示設備。傳統(tǒng)方式使用面型相機進行顯示設備的外觀檢測,但容易產(chǎn)生照明不均,穩(wěn)定性較低。
若使用線型掃描相機,則可在相同照明條件下進行大范圍檢測,對液晶面板等容易產(chǎn)生照明不均的工件進行外觀檢測時,其穩(wěn)定性得到了大幅度提升。以往將面型相機更換成線型掃描相機時,還需要更改與設備的兼容性、設定及編程,可以像使用面型相機一樣使用線型掃描相機。還可以混合使用面型相機和線型掃描相機,靈活應對未來的使用變化。
托盤上物品有無檢測、方向判斷檢測
以往進行托盤上物品有無檢測、方向判斷檢測這種大視野的檢測時,需要劃分檢測區(qū)域,使用多架面型相機拍攝。既影響生產(chǎn)效率,也增加了成本。
若使用線型掃描相機替換面型相機,則無需劃分檢測區(qū)域,可以提高生產(chǎn)效率并降低成本。
此外,無需移動相機,還可以大幅削減相機移動帶來的機器人控制或切換的工時。
我們可以兼容面型相機和線型掃描相機,將設備更換需求降到理想范圍。
太陽能電池的顏色檢測
以往雖然通過圖像處理對太陽能電池進行顏色檢測,但會因照明不均導致發(fā)生誤檢測。即使再次進行目視檢測,各負責人的判斷標準也存在差異,難以統(tǒng)一產(chǎn)品品質。
若我們用“Fine Color處理”,則可忽略照明不均的明暗信息,僅檢測顏色變化。
由此,可以降低不良品外流風險,并提高檢測工序效率,實現(xiàn)高效的生產(chǎn)效率。
半導體表面的不良打標檢測
檢測半導體表面的不良打標。傳統(tǒng)方式不易進行照明選擇,難以判斷污跡、刻印和不良打標。因此必須進行目視檢測,會花費大量人工費用。
若使用我們可以,則可通過Fine Color處理判斷出細微的顏色差別,準確檢測出不良打標。能夠防止不良品外流,并通過自動化節(jié)省人工費用。
IC導線端子彎曲檢測
檢測IC芯片導線端子的彎曲。傳統(tǒng)方式無法通過視覺系統(tǒng)判斷細微變化,難以穩(wěn)定檢測。
此外,還需要通過幾何運算分別計算出導線端頭的基準直線與導線端子邊緣位置的距離,要花費大量運算時間。
我們可以采用了支持2100萬像素+高速處理的視覺系統(tǒng),可以捕捉到以往難以檢測的細微變化。
并且,利用趨勢邊緣缺陷模式可以通過公差設定這一項檢測出發(fā)生彎曲的部分,無需創(chuàng)建算式。
太陽能電池電極圖形裂紋
我們可以擁有2100萬像素的高分辨率相機,可進行高精度的檢測。與目視檢測相比效率顯著提高,1臺設備即可完成多名檢測人員的工作。
并且,具備多項可以提高檢測穩(wěn)定性的預處理,即使是目視檢測容易遺漏的缺陷也能穩(wěn)定檢測出來。
段式LCD檢查
使用圖像處理功能,即可自動檢查段式LCD的顯示。
我們可以提供多種支持高速處理的視覺系統(tǒng),可以進行在線檢測,不僅削減了人工費用,還能有效提高生產(chǎn)效率。
檢測亮燈不良的同時,還可以進行亮燈校正。
晶片的凹口位置檢測
我們可以提供500萬像素和2100萬像素的高像素視覺系統(tǒng),可充分滿足精度需求。
此外,利用趨勢邊緣缺陷模式,還可以高精度檢測凹口的凹陷部分。趨勢邊緣缺陷模式采用的算法是檢測距離基準自由曲線的最大偏差點,即使晶片位置發(fā)生變化也可以穩(wěn)定檢測。
單元定位與四角缺角
同時進行單元定位和四角缺角檢測。傳統(tǒng)方式使用普通的高分辨率相機,傳輸速度較慢,無法將生產(chǎn)線的運行速度提高到目標值。
我們可以提供2100萬像素、傳輸時間109.9 ms,支持高速處理的相機,無需調低運行速度配合傳輸速度。還具備雙緩存功能,實現(xiàn)超高速處理,可有效利用生產(chǎn)設備的運行速度。再加上趨勢邊緣缺陷功能,還可以從被跟蹤的工件輪廓中識別缺陷,同步檢測出缺口等的尺寸。
夾頭異物檢測
通過視覺系統(tǒng)檢測吸附在芯片等工件上的夾頭尖端是否附有異物(切割碎片或雜質等),可以預防傳導不良等問題。我們可以支持高速處理,可以在不降低生產(chǎn)效率的基礎上實現(xiàn)全數(shù)檢測。有效防止不良品外流,削減廢棄損失。并且,提高設備的運行速度,有利于提升成品率,提高生產(chǎn)性。
玻璃基板上的定位記號檢測
檢測玻璃基板的定位記號并定位。傳統(tǒng)方式使用圖像處理設備進行校準、定位,在圖像校正上花費大量時間。且受精度影響,可能會出現(xiàn)不良品。
我們可以配備自動進行圖像校正的“自動圖像校正”功能。通過圖形搜索檢測定位記號的位置,并自動定位載物臺的位置。由此可以進行高速且準確的校準調整,提高了生產(chǎn)效率。
晶片的定向平面定位
使用圖像處理設備檢測定向平面的位置,計算斜率并調整角度,即可防止成品率降低。
操縱時的晶片位置測量
測量操縱時的晶片位置。傳統(tǒng)方式在操縱時不會進行位置測量,因此會出現(xiàn)不良品。
使用圖像處理設備,在操縱時預先準確測量晶片位置,可以預防在之后的工序中出現(xiàn)錯誤。
機架內(nèi)的晶片姿態(tài)檢查
檢查運輸機架內(nèi)晶片的插入姿態(tài)。傳統(tǒng)圖像處理系統(tǒng)與背景的對比度較低,難以準確檢查晶片數(shù)量和姿態(tài)。
若使用我們可以,則可利用模糊濾鏡對與背景對比度較低的截面部分進行實時濃淡和對比度轉換,實現(xiàn)準確識別。可以準確檢測出晶片角度。
運輸機械臂的位置精度確認
確認運輸晶片的機械臂的位置精度。如果不確認這一點,可能出現(xiàn)機械臂偏移,導致晶片破損。
始終利用視覺系統(tǒng)確認機械臂的停止位置,可預防故障產(chǎn)生。通過視覺系統(tǒng)檢查停止位置和動態(tài)精度,可以判斷機械臂的下降或偏移,并通知適當?shù)恼{整時間。
貼合液晶時的定位
定位貼合液晶時的位置。貼合液晶時有較高的精度要求,傳統(tǒng)圖像處理系統(tǒng)存在圖像校正時間較長這一課題。
我們可以具備自動圖像校正功能,可削減校正工時,有利于提高生產(chǎn)效率。利用圖形搜索準確檢測定位記號,通過高精度的亞像素處理實現(xiàn)更精確的定位。
運輸中的晶片姿態(tài)確認
利用視覺系統(tǒng)確認運輸中的晶片姿態(tài),可始終保持一定標準,實現(xiàn)產(chǎn)品品質統(tǒng)一。且降低了操作負責人的負擔,有利于節(jié)省人手。
玻璃基板的破裂、缺角檢測
檢測玻璃基板的破裂或缺角。傳統(tǒng)圖像處理設備受分辨率限制,不易發(fā)現(xiàn)細微缺陷,難以避免不良品外流。
我們可以配備2100萬像素的高分辨率相機,利用趨勢邊緣缺陷模式,可以發(fā)現(xiàn)玻璃基板的細微破裂或缺角。
液晶定位記號搜索
搜索液晶玻璃基板的定位記號。傳統(tǒng)方式在定位記號不明顯時,會發(fā)生誤檢測。
我們可高精度且穩(wěn)定地檢測出不明顯的定位記號。采用全新算法,即使存在缺損、翻轉、尺寸變化、亮度變化等也均可穩(wěn)定高速地進行搜索。
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